研發(fā)平臺(tái)
• 產(chǎn)品純度和微量元素分析——化學(xué)分析法、光譜法并輔助X衍射法(XRD法)
• 產(chǎn)品粒度分布和顆粒形態(tài)——馬爾文激光粒度分析儀、電阻法顆粒計(jì)數(shù)器和圖像觀察儀
• 產(chǎn)品晶體結(jié)構(gòu)、晶形檢測(cè)——X衍射法(XRD法)
• 產(chǎn)品晶體形貌和微結(jié)構(gòu)——掃描電鏡分析(SEM法)
• 產(chǎn)品原子結(jié)構(gòu)和缺陷——掃描隧道顯微鏡分析(STM法)
• 產(chǎn)品堆積密度——粉末綜合分析儀
• 產(chǎn)品強(qiáng)度分析——綜合力學(xué)分析儀
• 產(chǎn)品導(dǎo)熱系數(shù)-——導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀
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